Schaeffler Rulmanları Tic. Ltd. Şti.

 
 
 
 
Uygulamalar

Ölçüm ve Kontrol

Mikroskop ve kameralar için

Güvenmek iyidir. Kontrol ise daha da iyidir. Bu prensip, sorunsuz olarak tüm yarı iletken ve devre panosu üretim proseslerinde uygulanabilir. Kapsamlı ölçüm ve denetim işlemleri – optik, elektrik ya da X ışınlarında – her işlemde en yüksek kaliteyi temin eder. Bu nanometre aralığında hassasiyet gerektirir.

Bu noktada INA düşünmekten daha başka ne yapılabilir? Özellikle, iğneli rulmanlarımızı. Kompakt ve yüksek hassasiyetli.